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禾苗镀层测厚仪器
电源:AC220V/ 50Hz● zei大功率:330W● 工作温度:15-30℃● 相对湿度:≤85%,不结露 E3是一款通用型能量色散型X射线荧光光谱仪(EDXRF),专门用于镀层厚度检测;其
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Thick 8000镀层测厚仪
! Thick 8000镀层测厚仪是专门针对镀层厚度测量而精心设计的一款新型高端仪器。主要应用于:金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定;黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测。 性能优势
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M1 MISTRAL台式微区X射线荧光光谱仪
×100mm M1 MISTRAL根据所配探测器不同分为二种型号:正比计数器(PC)型和高分辨的硅漂移探测器(SDD)型参数PC型SOD型 激发源高性能微焦斑光管,W靶,玻璃窗高性能微
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日立接触式镀层测厚仪
良好,从初级水平到双重技术的可扩展型等系列产品可供选择。 应用领域手持镀层测厚仪应用于电镀和金属镀层侧厚金属表面处理工艺必须确保在磁性基材上的电镀层或镀锌涂层的 厚度被精确控制,以预防成品缺陷。 在
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双功能涂镀层测厚仪
配置: 主机、标准校准片、校准铁基体和铝基体、使用指南、英文检验报告证书、手提箱、挂绳及电池 L200测厚仪采用了磁感应和电涡流技术测厚法,是一种超小型测量仪。 双功能涂镀层测厚仪型号:L200
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PosiTector 6000涂镀层测厚仪
PA-2功能,计算一组平均读数的平均值 提供PosiSoft for Windows统计分析软件和USB连线 美国Defelsko公司的PosiTector 6000涂镀层测厚仪是精确耐用的
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CMI243镀层测厚仪
技术参数:型号:CMI 243 镀层测厚仪 膜厚仪 牛津仪器专业供应 品牌:OXFORD CMI(英国牛津) ●ECP-M探头:锌、镍均可以测量 ●准确度:±1% ●测量范围
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CMI-233镀层测厚仪
液晶显示屏 ●键区:密封膜。基本-9键;增强-16键 ●扫描特征:在指定扫描时间内自动平均读数(或可提供实际高低值) ●品牌及产地:英国牛津仪器;产地:美国 CMI 200型镀层测厚仪是高科技电子技术
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Thick 800A镀层测厚仪
技术指标 型号:Thick 800A 元素分析范围从硫(S)到铀(U)。 一次可同时分析zei多24个元素,五层镀层。 分析检出限可达2ppm,zei薄可测试0.005μm
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镀层测厚仪Thick880
% ~ 70% 电源要求 AC 220V±5V, 50/60HZ 超高分辨率、超清摄像头、超便捷操作、超快检测速度、超人性化界面 产品简介: X射线镀层测厚仪
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